ANSI/IEEE 1101-1988 微机机芯规格

作者:标准资料网 时间:2024-04-30 21:13:20   浏览:9468   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:MechanicalCoreSpecificationsforMicrocomputers
【原文标准名称】:微机机芯规格
【标准号】:ANSI/IEEE1101-1988
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1988
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:计算机硬件;尺寸;外壳;信息处理;力学
【英文主题词】:informationprocessing;computerhardware;mechanics;enclosures;dimensions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L62
【国际标准分类号】:35_160
【页数】:
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:粒度分析结果的表述 第5部分:用对数正态概率分布进行粒度分析的计算方法
英文名称:Representation of results of particle size analysis—Part 5:Methods of calculations relating to particle size analyses using logarithmic normal probability distribution
中标分类: 综合 >> 基础标准 >> 筛分、筛板与筛网
ICS分类: 试验 >> 粒度分析、筛分
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-06-16
实施日期:2012-03-01
首发日期:2011-06-16
作废日期:
主管部门:全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会(SAC/TC 168)
提出单位:全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会(SAC/TC 168)
归口单位:全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会(SAC/TC 168)
起草单位:钢铁研究总院,中机生产力促进中心
起草人:方建锋、郑毅、张晋远、余方
出版社:中国标准出版社
出版日期:2012-03-01
页数:16页
适用范围

GB/T15445的本部分是为累积粒度分布服从对数正态概率分布的颗粒系统的粒径表征方法提供一些理论依据,可以明确地验证用粒度分布函数所作的计算。
本部分中解释了对数正态概率坐标纸的设计以及矩、中位径、平均粒径和体积-比表面积等的计算方法。对数正态概率分布常常适用于表述任何维度的累积粒度分布。
本部分适用于以个数、长度、面积、体积或质量为基准所表征的累积分布,可以由一系列平行线表示,且是从其中任何一条已知线的位置均可以确定其他所有线的位置。

前言

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目录

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引用标准

下列文件中的条款通过GB/T15445的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T15445.1 粒度分析结果的表述 第1部分 图形表征(GB/T15445.1—2008,ISO9045:1990,MOD)
GB/T15445.2 粒度分析结果的表述 第2部分 由粒度分布计算平均粒径/直径和各次矩(GB/T15445.2—2006,ISO9276-2:2001,IDT)

所属分类: 综合 基础标准 筛分 筛板与筛网 试验 粒度分析 筛分
基本信息
标准名称:半导体集成电路外壳空白详细规范
英文名称:Blank detail specification of packages for semiconductor integrated circuits
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路
发布日期:1989-03-31
实施日期:1990-04-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
起草单位:全国半导体集成电路标技会
出版日期:1900-01-01
页数:7页
适用范围

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前言

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引用标准

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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路