NF C96-005-3-2001 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电器件.测量方法
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时间:2024-04-19 17:30:03
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【英文标准名称】:Discretesemiconductordevicesandintegratedcircuits-Part5-3:optoelectronicdevices-Measuringmethods.
【原文标准名称】:半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电器件.测量方法
【标准号】:NFC96-005-3-2001
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2001-10-01
【实施或试行日期】:2001-10-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:发光强度;辐射强度;电子设备及元件;光电子器件;分立器件;绝缘测试;绝缘电阻;二极管;显示装置;半导体器件;光电二极管;光耦合器;测量技术;频带宽度;电性质和电现象;试验;集成电路;回流电流
【英文主题词】:Bandwidths;Darkcurrent;Diodes;Discretedevices;Displaydevices;Electricalpropertiesandphenomena;Electronicequipmentandcomponents;Insulatingresistance;Insulationtest;Integratedcircuits;Luminousintensity;Measuringtechniques;Optoelectronicdevices;Photocouplers;Photodiodes;Radiantintensity;Semiconductordevices;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L53
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:34P.;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电器件.测量方法
【标准号】:NFC96-005-3-2001
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2001-10-01
【实施或试行日期】:2001-10-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:发光强度;辐射强度;电子设备及元件;光电子器件;分立器件;绝缘测试;绝缘电阻;二极管;显示装置;半导体器件;光电二极管;光耦合器;测量技术;频带宽度;电性质和电现象;试验;集成电路;回流电流
【英文主题词】:Bandwidths;Darkcurrent;Diodes;Discretedevices;Displaydevices;Electricalpropertiesandphenomena;Electronicequipmentandcomponents;Insulatingresistance;Insulationtest;Integratedcircuits;Luminousintensity;Measuringtechniques;Optoelectronicdevices;Photocouplers;Photodiodes;Radiantintensity;Semiconductordevices;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L53
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:34P.;A4
【正文语种】:其他
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