GB 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
作者:标准资料网
时间:2024-04-29 13:47:21
浏览:8084
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
基本信息
| 标准名称： | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 |
| 英文名称： | Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for volume resistivity |
| 中标分类： | |
| ICS分类： | |
| 发布部门： | 信息产业部（电子） |
| 发布日期： | 1985-01-01 |
| 实施日期： | 1986-01-02 |
| 首发日期： | 1985-11-27 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 提出单位： | 中华人民共和国电子工业部 |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 南京电子管厂 |
| 起草人： | 王明珍、赵小伟 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 3页 |
适用范围
本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500°C范围体积电阻率的测定。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类：
下载地址:
点击此处下载